再超越:探索新型半导体芯片的无限潜力

更新时间:2024-02-22      点击次数:236

芯片作为工业的"粮食" ,一直是全球高科技产业的重要支柱。在科学界和产业界,大家一直在不断尝试利用各种二维材料,开发出兼具高性能和低功耗的新一代芯片。

二维(2D)层状半导体,由于具备出色的栅极场穿透的原子厚度,可作为未来晶体管的通道材料。根据客户要求,我们需要在开发新材料时,不断地对样品进行参数测定,使之达到理论设计值。测试参数包含介电常数、C-V曲线、I-V曲线、静态电容 

本次我们将通过TH2838A阻抗分析仪、TH1992B精密源/测量电源定制上位机软件作为部分实验设备用于参数测定。

 

解决方案

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材料介电常数分析

介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用,TH2838A系列阻抗分析仪为材料研究和开发提供了强有力的工具,配合专用材料测试夹具TH26077以及上位机软件可方便、精确的测量材料在不同频率下的介电常数。

I-V曲线测试

对功率半导体器件进行静态测试,主要是为了解功率器件的性能。TH199X系列精密源/测量单元,可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、最小10fA/100nV的电源和测量分辨率,并内置了二极管、三极管、MOS管以及IGBT等器件的I/V曲线扫描功能,无需连接上位机即可完成IV功能测试。

C-V曲线测试

C-V特性曲线是用来测量半导体材料和器件的一种方法,TH2838A+TH1992B的组合方案,也可提供高精度的C-V曲线分析。

在瞬息万变的时代中,我们深知一个事实:优秀的解决方案能有效地解决您的问题。作为专业的电子测量测试综合解决方案提供商,我们同惠将继续根据大家的不同需求,确定有针对性且合理的技术解决方案。


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