手持式 XRF550A X荧光式合金成分镀层测厚仪

尺寸

300mm x 90mm x 220mm；(长宽高)

激发源

大功率高性能X射线管；

靶材：5种可选择 金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pb）；

电压：50kv；（可变电压）

滤波器

多种滤波器可选择，根据不同的被检测物自动调节；

探测器

大面积高灵敏度 SDD探测器；

探测器制冷温度

Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35℃；

标准片

外置316标准片/窗口保护盖；

处理器

SAMSUNG 800MHz高性能处理器；

操作系统

Microsoft Windows CE系统；

数据处理

8G大容量数据存储卡：≥40000组数据及光谱图；

数据显示

精确到百分比（％）显示，光谱或峰强度（计数率）或用户定的单位；

数据传输

手机4G、共享热点、WiFi与手机APP进行数据传输；

显示屏

彩色，高分辨率3.5寸TFT工业级触摸屏，任何光线条件下清晰可见；大图标图形界面；

外形设计

一体化机身设计，坚固、防水防尘及防冻，有效防振，适应潮湿或低温等野外环境使用；

安全操作

一触式“扳机"，软件具有自锁和防空测等保护功能；

分析元素

Mg、Al、Si、P、S、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb、Se、Zr、Co、V、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Ti、W、Hf、Ta、Re、Bi、Zr、Se、Nb、Pd、Ru、Ir、Pt、Au、Rh等元素；

测试环境条件

温度-20～+40℃，湿度＜80%RH。