ATP3034--4096像素超高分辨率光纤光谱仪系列是奥谱天成最新研制的高分辨率光纤光谱仪，其探测器像素高达4096个，响应范围覆盖UV至NIR波段(180-1100 nm)。光路、电路、信号处理方法均进行了深度优化，从而实现了超高分辨率、超低噪声的性能。

一、产品概述

ATP3034系列是奥谱天成在光谱分析技术领域的又一力作，代表了光纤光谱仪高分辨率发展的新成就。该系列产品以其卓1越的4096像素探测能力，成功实现了从紫外到近红外波段（180-1100nm）的宽谱段覆盖，为精密光谱分析树立了新的技术标1杆。

这款光谱仪的核心突破在于其像素密度。相较于传统的2048像素探测器，ATP3034采用的4096像素探测器将采样点数提升了一倍，这使得其在全波段范围内都能获得更加细腻、精确的光谱数据。这一特性特别适用于需要分辨极其接近光谱特征的严苛应用场景，为科研和工业检测提供了前所未1有的分辨能力。

在光学设计方面，研发团队对光路结构、电路系统和信号处理方法进行了全1方位的深度优化。通过精密的交叉C-T光路设计，结合先1进的光学模拟与优化算法，确保了光线在传输过程中的最小损耗和最1优成像质量。同时，专门开发的低噪声读出电路和创新的信号处理算法，共同实现了超低噪声的卓1越性能，使仪器在保持高灵敏度的同时，能够有效抑制各类干扰信号。

该系列中的ATP3011P型号更是采用了TE深度制冷技术，将探测器温度稳定控制在精确的设定值。这种主动温控设计不仅显著降低了探测器的暗电流噪声，更大幅提升了系统的信噪比和动态范围。值得一提的是，ATP3011P仅需单一的5V直流电源供电，通过USB2.0或UART接口进行数据传输，这种简洁的供电和通信方案极大地便利了系统的集成与应用。

为了满足不同用户的需求，该系列提供了完整的型号配置：

• ATP3000：2048像素探测器，非制冷版本

• ATP3040：4096像素探测器，非制冷版本

• ATP3011P：4096像素探测器，TE深度制冷版本

二、技术特征

ATP3034 4096像素超高分辨率光纤光谱仪系列在技术参数上表现卓1越，其主要特征包括：

• 探测系统：配备4096像素的高灵敏度探测器，配合先1进的制冷技术，确保在长时间曝光下仍能保持极低的噪声水平

• 分辨率性能：凭借高密度像素和优化的光路设计，可实现0.01nm的分辨率，能够清晰分辨极其细微的光谱特征

• 灵敏度表现：高达650V/(lx·s)的灵敏度指标，使其能够有效检测微弱光信号

• 光谱范围：覆盖180-1100nm的宽谱段，从深紫外延伸至近红外区域

• 读出性能：读出速率达10MHz，确保数据采集的高速性

• 光学结构：采用精密的交叉C-T光路设计，在紧凑的空间内实现优异的光学性能

• 操作参数：积分时间范围从1ms到65535ms，提供充分的调节空间以适应不同亮度条件的测量需求

• 供电设计：采用DC 5V±10%，电流<2A的供电方案，兼顾了性能与能效的平衡

• 接口配置：支持SMA905光纤接口和自由空间光输入，数据输出提供USB2.0高速接口和UART两种选择

三、应用领域

凭借其超高分辨率和优异的信噪比表现，ATP3034系列在多个精密测量领域展现出独特的价值：

在分析化学领域，该系列是构建微量、快速分光光度计的核心部件，能够对微量样品进行快速、准确的光谱分析。在基础科学研究中，它为光谱分析、辐射分光分析、分光光度分析提供了强有力的工具，帮助研究人员获取更加精细的光谱信息。

在材料表征方面，ATP3034系列能够精确完成透过率、吸光度检测，为材料光学特性的研究提供可靠数据。同时，在反射率检测应用中，其高分辨率特性能够准确捕捉材料表面光学特性的细微变化。

在光源特性分析领域，该系列适用于波长检测，涵盖紫外、可见和短波近红外波段，为激光器、LED等光源的波长特性分析提供精确测量。此外，在椭偏仪系统中，ATP3034的高分辨率和低噪声特性为薄膜厚度和光学常数的精确测定提供了有力保障。

ATP3034系列4096像素超高分辨率光纤光谱仪的成功研制，不仅体现了奥谱天成在光谱技术领域的深厚积累，更为高1端科研和精密工业检测提供了强有力的技术支撑，推动着光谱分析技术向着更高精度、更高灵敏度的方向不断发展。