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制冷型超薄超高分辨率M型光路光纤光谱仪
产品简介
| 品牌 | 奥谱天成 | 分辨率 | 0.05 ~ 3nm |
|---|---|---|---|
| 光谱范围 | 近红外,200-1100nm | 价格区间 | 面议 |
| 光谱范围 | 近红外,200-1100nm | 按探测器 | CCD |
| 应用领域 | 环保,食品/农产品,化工,生物产业,制药/生物制药 |
奥谱天成基于深厚的光谱技术积淀,正式推出新一代ATP3330及ATP5330系列制冷型超薄超高分辨率M型光路光纤光谱仪。该系列产品采用独特的M型光路设计,并融合了TEC热电制冷技术,将微型光谱仪的性能推向了一个新的高峰,旨在满足各类苛刻的高分辨率光谱分析需求。
该系列产品的核心竞争力源于其两项核心技术:M型光路结构与可选探测器制冷方案。
M型光路与超高分辨率:与传统光路相比,优化后的M型光路结构在同样紧凑的体积内,实现了更高的光通量与色散效率,从而赋予了光谱仪极1致的分辨能力。其分辨率可达0.05nm,能够清晰分辨极其接近的 spectral features,为精密分析奠定了坚实基础。
TEC制冷技术与优异信噪比:该系列提供了制冷与非制冷的灵活配置。其中,ATP5330子系列采用了精密的TEC电制冷技术,可将探测器核心温度稳定控制在-5℃(ATP5330P更可达-10℃)。这种主动制冷方式能显著降低探测器的暗电流和本底噪声,其直接效益是大幅提升了光谱仪的动态范围和信噪比。这意味着在测量微弱信号时,能够获得更清晰、更纯净的光谱数据,同时增强了设备在环境温度波动下的测量稳定性与可靠性。
为精准覆盖不同应用场景与预算,该系列提供了丰富的型号选择,核心区别在于制冷技术与探测器像素:
| 型号 | 探测器制冷 | 探测器像素 |
|---|---|---|
| ATP3330 | 否 | 2048 |
| ATP3334 | 否 | 4096 |
| ATP5330 | 是,-5℃ | 2048 |
| ATP5334 | 是,-5℃ | 4096 |
| ATP5330P | 是,-10℃,背照式CCD | 2048 |
用户可根据对分辨率(像素数)和信噪比(制冷)的具体要求,选择最合适的型号。特别是ATP5330P,采用背照式CCD技术,具有更高的量子效率,使其在极弱光探测中表现尤为出色。
光学性能:覆盖200-1100nm的宽光谱范围,分辨率在0.05nm至3nm之间可调,采用非交叉C-T光路,结构稳定。
探测系统:配备2048或4096像素的高灵敏度探测器,配合16位高精度ADC,确保数据采集的丰富性与准确性。
操作与集成:积分时间范围宽广,从0.1毫秒到256秒,既可捕捉高速动态过程,也能累积极弱光信号。供电设计简便,ATP3330仅需5V直流或USB取电;ATP5330系列需额外5V电源。数据接口采用现代化的USB Type-C,传输稳定高效,并预留了20针扩展接口,支持功能定制与二次开发。
输入输出:支持SMA905光纤输入和自由空间光输入,兼容性强,便于集成到各种光学系统中。
凭借其超高分辨率、低噪声及高可靠性等特性,ATP3330/ATP5330系列已成为众多前沿科研与工业分析领域的理想工具:
高级科研分析:适用于LIBS(激光诱导击穿光谱)、等离子体发光检测、拉曼光谱检测等,需要高分辨率来分辨精细光谱结构的场景。
光源特性监测:用于激光器、LED等发光元件的波长、光谱形状及稳定性的精确监测与分选。
环境与品质检测:集成于水质分析仪、LED分选机、颜色检测设备以及反射、透射光谱检测系统中,提供精准的数据支持。
通用光谱分析:广泛应用于光谱分析、辐射分光分析、分光光度分析等各类光学实验与在线过程控制。
总而言之,奥谱天成ATP3330/ATP5330制冷型超薄超高分辨率M型光路光纤光谱仪以其超高的分辨率、优异的信噪比和紧凑的设计,成功实现了高性能、高可靠性與低成本的良好平衡,为光谱技术从实验室走向在线、便携和嵌入式应用提供了强有力的核心组件。