ATP3330和ATP5330采用制冷的2048或4096像素线阵探测器，达到了超高分辨率，最高分辨率可达0.05nm，适用于各种高分辨率应用场合，同时具备高可靠性、超高速、低成本、高性价比等特性，可适应在线测试等各种环境用途的超薄超高分辨率M型光路光纤光谱仪。

产品概述

奥谱天成倾力推出的ATP3330及ATP5330超薄超高分辨率M型光路光纤光谱仪，代表了微型光纤光谱仪技术的一次重要飞跃。该系列产品集超薄设计、超高分辨率与先1进制冷技术于一身，是基于奥谱天成自主研发的M型光路结构打造的新一代高性能光谱分析核心模块。它们不仅突破了微型光谱仪在物理尺寸上的限制，更在光学性能上达到了业界领1先水平，旨在为各类高精度、高灵敏度的光谱分析应用提供解决方案。

本系列产品的卓1越性能，首先归功于其创新的M型光路设计。该设计相较于传统的Czerny-Turner光路，在保持结构紧凑的同时，通过优化光路布局，显著减少了像差，从而获得了更高的光通量和更优异的光谱成像质量。正是这一核心设计，使得ATP3330系列能够实现0.05纳米的极1致分辨率，能够清晰分辨波长极为接近的光谱特征，为尖1端科研与精密工业检测奠定了坚实基础。

为了满足不同应用场景下对信噪比和稳定性的苛刻要求，该系列提供了从非制冷到深度制冷的灵活配置。其中，ATP5330子系列采用了TEC半导体制冷技术，可将探测器核心温度稳定控制在-5℃。这种主动制冷技术能极大地抑制探测器的暗电流和热噪声，其直接效益是大幅拓宽了光谱仪的动态范围，并显著提升了信噪比。这使得ATP5330系列在测量微弱光信号（如拉曼光谱、荧光光谱）时，能够获得极其纯净、可靠的数据。特别值得一提的是ATP5330P型号，它采用了深度制冷至-10℃的背照式CCD探测器，凭借其更高的量子效率和更低的读出噪声，将信噪比表现提升至更优水平，堪称极弱光探测的利器。

型号配置一览

产品主要特征

• 光学核心：采用独特的M型光路与非交叉C-T结构，确保超高分辨率；覆盖200-1100nm的宽光谱范围，分辨率在0.05nm至3nm间可调。

• 探测系统：可选2048或4096像素的线阵探测器，配备16位高精度ADC，确保数据采集的丰富度与准确性。

• 性能：宽广的积分时间范围，从0.1ms至256s，既能捕捉高速瞬态光谱，也能累加测量极微弱信号。

• 便捷集成：超薄超小的机械设计，极大节省安装空间。ATP3330供电简便，仅需一个5V直流电源或直接通过USB接口取电；ATP5330系列因制冷功耗需要额外的5V电源。数据输出采用现代化的USB Type-C接口，并预留了20针可编程扩展接口，为用户的二次开发和系统集成提供了极大的灵活性。

• 输入方式：支持标准的SMA905光纤输入和自由空间光输入，兼容性强。

应用领域

凭借其顶1尖的性能与卓1越的适应性，ATP3330/ATP5330系列已成为众多前沿领域的理想选择：

• 科研分析：适用于LIBS（激光诱导击穿光谱）、等离子体发光检测、拉曼光谱检测等需要高分辨率解析精细光谱结构的研究。

• 光源监测与分选：用于激光器波长稳定性监测、LED光谱分析与颜色分选，确保光源产品的质量与一致性。

• 环境与工业检测：作为核心模块集成于水质分析仪、在线过程监测系统以及材料反射、透射光谱检测设备中。

• 通用光谱研究：广泛服务于光谱分析、辐射分光分析、分光光度分析等各类光学实验室与工业现场。

综上所述，奥谱天成ATP3330/ATP5330超薄超高分辨率M型光路光纤光谱仪成功地将超高分辨率、低噪声性能与微型化设计融为一体，以高性价比和高可靠性，为现代光谱技术从实验室走向在线、便携和嵌入式应用，提供了强大的技术支撑与核心装备。